PEEK塑膠厚薄規(單片)
我們製造的PEEK塑膠量測間隙片(單片厚薄規),厚度有0.1mm~3.0mm提供多種厚度可以選擇,也可以依據客戶環境尺寸,客製化不同的厚度(GAP)。除了量測物品時,不易刮傷產品之外,PEEK材質本身可以耐高溫到240度C,還具有耐強酸、耐強鹼、耐磨的特性,特別適合用於電子、半導體、化學、石油工業中。另外我們也提供整組PEEK厚薄規及PEEK塑膠厚度片適用的環境、材質、規格諮詢的服務,也歡迎透過以下表單與我們聯繫。
細節0.14 OF 間隙規
我們製造的量測晶圓(WAFER) 0.14 OF間隙規採用 PEEK 材質,間隙規前端的厚度最薄可以到0.1mm,且專為半導體與其他高精密製程需求設計,具耐高溫至240度C、耐酸鹼、耐腐蝕、耐磨損等特性,安全適用於無塵室環境。產品的耐磨損性能確保了長期穩定的使用,搭配輕量化與高精度設計,實現高效測量與固定需求,歡迎聯繫我們了解更多或獲取報價。
細節耐高溫製程用晶圓導引片
我們製造的 Vespel Wafer Guide(晶圓導引片) 採用杜邦 Vespel® 材質,專為高溫、電漿與真空製程下的導引零件需求設計。具備極佳熱穩定性、抗化學性與低摩擦特性,可降低...
細節破真空治具(組合型)
我們的破真空治具(組合型)專為半導體製程設計,適用於晶圓與光罩的真空釋放作業。當元件透過真空吸附固定時,此治具可穩定協助破真空,確保元件順利分離。 前端刀片採用可更換設計,可根據使用需求調整,延長治具壽命並降低維護成本。產品採用高耐磨工程塑膠與精密加工技術,減少使用過程中的摩擦與刮傷風險。 此外,我們提供各類型破真空治具的設計與諮詢,並支持少量訂製,歡迎填寫以下表單與我們聯繫!
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